表面粗糙度的常用术语及定义
表面粗糙度的常用术语及定义
| 术 语 | 参数符号 | 定 义 | |
| 新 | 旧 | ||
| 取样长度 | lr | l | 用于判别被评定轮廓的不规则特征的x轴方向上的长度。评定表面粗糙度的取样长度lr在数值上与轮廓滤波器λc的标志波长相等 |
| 评定长度 | ln | ln | 用于判别被评定轮廓的x轴方向上的长度。评定长度可包含一个或几个取样长度 |
| 纵坐标值 | Z(x) | Y | 被评定轮廓在任一位置距x轴的高度。若纵坐标位于x轴下方，该高度被视作负值，反之则为正值 |
| 中 线 | 具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线 | ||
| 粗糙度轮廓中线 | 用轮廓滤波器λc抑制了长波轮廓成分相对应的中线 | ||
| 局部斜率 |  | — | 评定轮廓在某一位置ｘi的斜率 式中 Zi——第一个轮廓点的高度Δｘ——相邻两轮廓点之间距 a)局部轮廓 |
| 轮廓峰高 | Zp | Yp | 轮廓最高点距x轴线的距离 b)轮廓单元 |
| 轮廓谷深 | Zv | Yv | x轴线与轮廓谷最低点之间的距离(图b) |
| 轮廓单元的高度 | Zt | — | 一个轮廓单元的峰高和谷深之和(图b) |
| 轮廓单元的宽度 | Xs | — | x轴线与轮廓单元相交线段的长度(图b) |
| 在水平位置c上轮廓的实体材料长度 | Ml（c） | ηp | 在一个给定水平位置c上用一条平行于x轴的线与轮廓单元相截所获得的各段截线长度之和(图c)Ml（c）＝Ml1＋Ml2 c)实体材料长度 |
| 最d轮廓峰高 | Rp | Rp | 在一个取样长度内，最大的轮廓峰高Zp d)最大轮廓峰高 |
| 最大轮廓谷深 | Rv | Rm | 在一个取样长度内，最大的轮廓谷深Zv e)最大轮廓谷深 |
| 轮廓的最大高度 | Rz① | Ry | 在一个取样长度内，最大轮廓峰高Zp和最大轮廓谷深Zv之和的高度 f)轮廓的最大高度 |
| 轮廓单元的平均线高度 | Rc | Rc | 在一个取样长度内，轮廓单元高度Zt的平均值  g)轮廓单元的高度 |
| 轮廓的总高度 | Rt | — | 在评定长度内，最大轮廓峰高Zp和最大轮廓谷深Zv之和 |
| 评定轮廓的算术平均偏差 | Ra | Ra | 在一个取样长度内，纵坐标值Z（x）绝均值的算术平均值 |
| 评定轮廓的均方根偏差 | Rq | Rq | 在一个取样长度内，纵坐标值Z(x)的平方根值 |
| 评定轮廓的偏斜度 | Rsk | Sk | 在一个取样长度内，纵坐标值Z(x)三次方的平/值与Rq的三次方的比值 |
| 评定轮廓的陡度 | Rku | — | 在一个取样长度内，纵坐标值Z(x)四次方的平均值与Rq的四次方的比值 |
| 轮廓单元的平均宽度 | RSm | Sm | 在一个取样长度内，轮廓单元宽度Xs的平均值  h)轮廓单元的宽度 |
| 评定轮廓的均方根斜率 | RΔq | Δq | 在取样长度内，纵坐标斜率dZ／dx的均方根值 |
| 轮廓的支承长度率 | Rmr(c) | — | 在给定水平位置c上轮廓的实体材料长度Ml(c)与评定长度的比率 |
| 轮廓截面高度 | Rδc | — | 给定支承比率的两个水平截面之间的垂直距离Rδc＝C（Rmr1）－C（Rmr2） （Rmr1＜Rmr2） |
| 相对支承比率 | Rmr | tp | 在一个轮廓水平截面Rδc确定的，与起始零位C0相关的支承比dRmr＝Rmr（C1）式中 C1＝C0－RδcC0＝C（Rmr0） i)轮廓水平截面的幅度差 |
| 微观不平度十点高度 | — | Rz① | 在取样长度内5个最大的轮廓峰高的平均值与5个最大轮廓谷深的平均值之和 式中 Zpi——第i个最大的轮廓高Zvi——第i个最大的轮廓谷深 |